Характеристики:

Цифровые каналы

• Ток тестирования на канал - 650 mA

• Скорость переключения каналов - 20 наносекунд

• Память цифрового канала - 8 K x 2 bit RAM

• Амплитуда напряжения - программируется с шагом 80mV +/- 10v

• Порог напряжения - программируется с шагом 80 mV +/- 10 V

• Частота тестирования до 500 kHz ( от 1.9 KHz до 500KHz)

• Библиотека тестера содержит более 10000 TTL, CMOS, ECL, EIA, LSI, аналоговые, гибридные микросхемы.

• Управляемый источник питания

• 5V - 7 A / -5V - 0.5A / +12V - 2.5A / -12V - 0.7A

Аналоговые каналы

• Разрешение 12 bit

• Программируемое напряжение тестирования по амплитуде, фазе и частоте (синусоидальное, прямоугольное, треугольное, импульсное)

• Память канала- 8K x 12 bit RAM

• Частота тестов - max 250 KHz - min 0,25 Hz

• Диапазон значения импеданса 50 Ом, 200 Ом, 1кОм, 10 кОм, 100 кОм

• Наряжение/ток на канал +/- 250 mA, +/_ 13 V

QSM и сигнатурные каналы

• Диапазон тестирования

• 2.5 V / 25mA, 6.25mA, 1.25mA

• 8.0 V/ 20 mA, 4mA, 0.4mA

• 13V/6.5mA, 0,65mA, 0.065mA

• Частота тестирования - 40Hz, 312Hz, 2.5KHz

• Скорость тестирования - 30 mSec на сигнатуру